MEDIÇÃO DO GAP ÓPTICO DE FILMES FINOS POR MEIO DAS PRÓPRIEDADES ÓPTICAS
DOI:
https://doi.org/10.15628/holos.2018.4826Palavras-chave:
Radiação eletromagnética, filmes finos, energia, sputtering magnetron, bandgapResumo
O desempenho óptico de qualquer material resulta da sua interação com uma radiação eletromagnética. Experimentalmente, através de medições de absorção óptica, é possível estimar o valor da energia fotoelétrica absorvida pelo material e obter indicações sobre o tipo de transição da banda. Neste trabalho é realizada a análise de deposições de filmes finos com 100% de argônio em substrato de vidro, depositados por magnetron sputtering, com tempos de deposição de trinta minutos e de uma hora. As constantes ópticas dos filmes foram medidas por medições de refletância óptica e transmitância. Esses valores, juntamente com micrografias obtidas no microscópio eletrônico de varredura (MEV), promovem a construção da curva que fornece a estimativa da energia de bandgap dos filmes. Os filmes finos de argônio com o tempo de deposição maior do que os outros (1 hora) são apresentados como mais condutores, devido à sua baixa energia de bandgap. Os resultados sugerem que 100% de filmes de argônio podem ter um potencial considerável para serem usados como eletrodos transparentes aplicados a células solares, desde que tenham sua resposta óptica otimizada por algum elemento dopante.
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